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CMOSカメラモジュール検査
CMOSカメラモジュールの検査（解像度、輝度偏差、均一性、色再現性、階調性、低照度感度、オートホワイトバランスなど）を画像処理にて行います。
装置概略図
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電機特性検査・画像評価環境
解像度(CTF)
輝度偏差(Shading)
均一性(Uniformity)
色再現性(Color)
階調性(Gray Scale)
低照度感度(ALC)
オートホワイトバランス(AWB)
黒ゴミ・キズ(B-Dust)
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光漏れ(Lumi Leak)・白キズ
歪曲収差(TV Distortion)
画角(Angle Of Field)
光軸ズレ(Opti Gap)
線欠陥(Line Defect)
θ(シータ)ズレ
セピア・モノクロ/上下・左右反転
アンチフリッカ
Bit落ち
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解像度(CTF)
専用テストチャートの撮像を行い、基準白エリア(BaseWhite:BW)・基準黒エリア(BaseBlack:BB)より、それぞれの輝度データ平均値を取得し、その差を基準コントラストとします。テストチャート縞々領域に被評価エリアを設置し、評価エリア内の輝度データ平均値を基準とし、評価エリアを白・黒に分別し、それぞれの平均値を取得し、その差を被評価コントラストとします。
解像度検査 専用テストチャート
輝度偏差(Shading)
専用テストチャートの撮像を行い、中心指定エリア輝度データ平均値に対する、周辺任意エリア内輝度データ平均値の比率を計算します。
均一性(Uniformity)
専用テストチャートの撮像を行い、任意サイズに分割した各領域の輝度データ平均値を算出し、最大および最小より均一性を算出します。
色再現性(Color)
専用テストチャートの撮像を行い、各色の任意エリアにおけるHLSおよびCIE-xy値を測定値とします。
色再現性検査 専用テストチャート
階調性(Gray Scale)
専用テストチャートの撮像を行い、各パッチ部の輝度データ平均値を取得し、隣接パッチ間出力差を中心白部のCenterYavg基準にて算出します。
低照度感度(ALC)
専用テストチャートの撮像を行い、基準照度環境に対する低照度環境の比を求め、低照度感度測定とします。
オートホワイトバランス(AWB)
専用テストチャートの撮像を行い、任意撮像環境を色温度変換フィルターにより作り出し、任意測定エリア及びフルスクリーンにおける「R/G」「B/G」を算出し、その値が各測定環境での規定範囲内に存在するか計算し、AWB検査とします。または、任意測定エリアにおけるHLS・CIE-xyより白レベルを判定し、AWB検査とします。
黒ゴミ・キズ(B-Dust)
専用テストチャートの撮像を行い、複数枚の画像データを積分し、注目画素(低出力画素)を検出します。検出した注目画素と周辺画素との輝度データ平均値比較を行い、規定値以上の差異がある場合は「黒ゴミ・黒点」と判断します。
光漏れ(Lumi Leak)・白キズ
モジュール絞りからの入射光を遮光(モジュール目隠し)し、複数枚の画像データを積分しYmax検出を行います。Ymaxレベルと規定値との比較により、光漏れ・白キズを検出します。
歪曲収差(TV Distortion)
専用テストチャートの撮像を行い、中心線から各辺への最大距離・最小距離の比率により歪率を測定します。水平方向最大距離と最小距離の位置を検出し、中心点に近い方を基準とし算出を行います。マイナス値の場合は「正」、プラス値の場合は「負」の歪となります。垂直方向についても同様です。
画角(Angle Of Field)
専用テストチャートの撮像を行い、水平・垂直ライン間距離をカウントし、被写体距離・チャートサイズより実像距離を取得し、演算より求められた値を画角とします。対角画角は水平・垂直実像距離より算出します。
光軸ズレ(Opti Gap)
専用テストチャートの撮像を行い、水平ラインのHY(n)平均を求めHY(Hn)max位置を検出します。垂直ラインも同様にVY(Vn)ma位置を検出し、その交点を光軸中心とし、イメージセンサーからの差異を光軸ズレとします。
線欠陥(Line Defect)
専用テストチャートの撮像を行い、水平ラインのHYavgを算出し、HYmax・HYminより、水平線欠陥を検出します。垂直ラインも同様にVYmax・VYminより垂直線欠陥を検出します。
θ(シータ)ズレ
専用テストチャートの撮像を行い、水平・垂直ラインの交点座標を取得し、座標差より水平・垂直のズレ角を算出し、θズレ測定とします。
セピア・モノクロ/上下・左右反転
専用テストチャートの撮像を行い、任意測定エリアの輝度データ値を測定し上下・左右反転をした際に輝度データ変動を確認することにより反転機能検査とします。また、任意測定エリアのHLSもしくはCIE-xy値を測定しセピア・モノクロ変換をした際にHLSもしくはCIE-xy値の変動を確認することによりセピア・モノクロ変換機能検査とします。
セピア・モノクロ/上下・左右反転検査 専用テストチャート
アンチフリッカー
周波数可変光源により「50Hz/60Hz」にて点灯を行い、フリッカが現れる環境を作り出し、専用テストチャートの撮像を行い、数秒後にアンチフリッカ動作をレジスタ値Readにより確認することにより、アンチフリッカ機能検査とします。
Bit落ち
レジスタ設定によりIC内蔵のテストパターンを表示し、任意アドレスの出力信号Y0〜Y7を規定値と比較し、正規信号出力の確認を行うことによりBit落ち検査とします。電特検査(Open-Short検査)による検出も可能です。
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