特長
サイズ
マニュアル
仕様
開発例
  • カメラモジュール用 画像入力ボード MV-96
  • カメラモジュール用 画像入力ボード

     

    カメラモジュールからの画像をUSB3.0で出力します。

    ソフトウェア上で周波数(1MHz〜100MHz)と電圧の調整できます。

    カメラの開発のための実験やカメラモジュールの出荷検査に最適です。

     

     

    型番:GZ41CL カラーモノクロ

    定価(税抜) ¥80,000

    ※受注生産品 5台〜

     

     

    • 個人向け

    • 法人向け

USB3.0インターフェース経由で、簡単にカメラモジュールの画像を取り込みます。

MV-46と同サイズを実現。(60mm x 60mm)

周波数の調整が可能 1MHz〜100MHz

電圧の調整が可能

ソニー、Aptina、OmniVision、パナソニック、東芝、サムスンなどのCMOSセンサーに対応

 

周波数と電圧の調整

MV-96

ソフトウェア上で周波数の設定、VDD_H、VDD_Lの調整などを自動で行うことができます。

レジスタの設定

MV-96

カメラモジュールのレジスタにデータを設定するダイアログを用意しています。

外形イメージ

外形

外形

出力 USB 3.0 バルク転送
カメラデータ形式 8bit / 16bit
カメラ制御信号 I2C
カメラ周波数制御 1MHz〜100MHz
カメラ制御電源 VDD_H 1.2V 〜 3.3V
VDD_L 1.2V 〜 3.3V
+75mV(25mV刻み)調整可能
基板サイズ 60mm x 60mm
動作温度 0℃〜50℃
質量 約32g
適応OS Windows 7, Windows 8, Windows 10

応用開発例

CMOSカメラモジュール検査

CMOSカメラモジュールの検査(解像度、輝度偏差、均一性、色再現性、階調性、低照度感度、オートホワイトバランスなど)を画像処理にて行います。

 

装置概略図

 

装置概略図

 

 

検査項目

電機特性検査・画像評価環境

解像度(CTF)

輝度偏差(Shading)

均一性(Uniformity)

色再現性(Color)

階調性(Gray Scale)

低照度感度(ALC)

オートホワイトバランス(AWB)

黒ゴミ・キズ(B-Dust)

光漏れ(Lumi Leak)・白キズ

歪曲収差(TV Distortion)

画角(Angle Of Field)

光軸ズレ(Opti Gap)

線欠陥(Line Defect)

θ(シータ)ズレ

セピア・モノクロ/上下・左右反転

アンチフリッカ

Bit落ち

 

解像度(CTF)

専用テストチャートの撮像を行い、基準白エリア(BaseWhite:BW)・基準黒エリア(BaseBlack:BB)より、それぞれの輝度データ平均値を取得し、その差を基準コントラストとします。テストチャート縞々領域に被評価エリアを設置し、評価エリア内の輝度データ平均値を基準とし、評価エリアを白・黒に分別し、それぞれの平均値を取得し、その差を被評価コントラストとします。

 

解像度検査 専用テストチャート

解像度検査 専用テストチャート

 

輝度偏差(Shading)

専用テストチャートの撮像を行い、中心指定エリア輝度データ平均値に対する、周辺任意エリア内輝度データ平均値の比率を計算します。

 

均一性(Uniformity)

専用テストチャートの撮像を行い、任意サイズに分割した各領域の輝度データ平均値を算出し、最大および最小より均一性を算出します。

 

色再現性(Color)

専用テストチャートの撮像を行い、各色の任意エリアにおけるHLSおよびCIE-xy値を測定値とします。

 

色再現性検査 専用テストチャート

色再現性検査 専用テストチャート

 

階調性(Gray Scale)

専用テストチャートの撮像を行い、各パッチ部の輝度データ平均値を取得し、隣接パッチ間出力差を中心白部のCenterYavg基準にて算出します。

 

低照度感度(ALC)

専用テストチャートの撮像を行い、基準照度環境に対する低照度環境の比を求め、低照度感度測定とします。

 

オートホワイトバランス(AWB)

専用テストチャートの撮像を行い、任意撮像環境を色温度変換フィルターにより作り出し、任意測定エリア及びフルスクリーンにおける「R/G」「B/G」を算出し、その値が各測定環境での規定範囲内に存在するか計算し、AWB検査とします。または、任意測定エリアにおけるHLS・CIE-xyより白レベルを判定し、AWB検査とします。

 

黒ゴミ・キズ(B-Dust)

専用テストチャートの撮像を行い、複数枚の画像データを積分し、注目画素(低出力画素)を検出します。検出した注目画素と周辺画素との輝度データ平均値比較を行い、規定値以上の差異がある場合は「黒ゴミ・黒点」と判断します。

 

光漏れ(Lumi Leak)・白キズ

モジュール絞りからの入射光を遮光(モジュール目隠し)し、複数枚の画像データを積分しYmax検出を行います。Ymaxレベルと規定値との比較により、光漏れ・白キズを検出します。

 

歪曲収差(TV Distortion)

専用テストチャートの撮像を行い、中心線から各辺への最大距離・最小距離の比率により歪率を測定します。水平方向最大距離と最小距離の位置を検出し、中心点に近い方を基準とし算出を行います。マイナス値の場合は「正」、プラス値の場合は「負」の歪となります。垂直方向についても同様です。

 

画角(Angle Of Field)

専用テストチャートの撮像を行い、水平・垂直ライン間距離をカウントし、被写体距離・チャートサイズより実像距離を取得し、演算より求められた値を画角とします。対角画角は水平・垂直実像距離より算出します。

 

光軸ズレ(Opti Gap)

専用テストチャートの撮像を行い、水平ラインのHY(n)平均を求めHY(Hn)max位置を検出します。垂直ラインも同様にVY(Vn)ma位置を検出し、その交点を光軸中心とし、イメージセンサーからの差異を光軸ズレとします。

 

線欠陥(Line Defect)

専用テストチャートの撮像を行い、水平ラインのHYavgを算出し、HYmax・HYminより、水平線欠陥を検出します。垂直ラインも同様にVYmax・VYminより垂直線欠陥を検出します。

 

θ(シータ)ズレ

専用テストチャートの撮像を行い、水平・垂直ラインの交点座標を取得し、座標差より水平・垂直のズレ角を算出し、θズレ測定とします。

 

セピア・モノクロ/上下・左右反転

専用テストチャートの撮像を行い、任意測定エリアの輝度データ値を測定し上下・左右反転をした際に輝度データ変動を確認することにより反転機能検査とします。また、任意測定エリアのHLSもしくはCIE-xy値を測定しセピア・モノクロ変換をした際にHLSもしくはCIE-xy値の変動を確認することによりセピア・モノクロ変換機能検査とします。

 

セピア・モノクロ/上下・左右反転検査 専用テストチャート

セピア・モノクロ/上下・左右反転検査 専用テストチャート

 

アンチフリッカー

周波数可変光源により「50Hz/60Hz」にて点灯を行い、フリッカが現れる環境を作り出し、専用テストチャートの撮像を行い、数秒後にアンチフリッカ動作をレジスタ値Readにより確認することにより、アンチフリッカ機能検査とします。

 

Bit落ち

レジスタ設定によりIC内蔵のテストパターンを表示し、任意アドレスの出力信号Y0〜Y7を規定値と比較し、正規信号出力の確認を行うことによりBit落ち検査とします。電特検査(Open-Short検査)による検出も可能です。

※記載内容は改良のため予告なしに変更する場合があります。

※CMOSセンサーの特性上、数画素の欠陥は避けられません。デモ機でのご確認の上、お使いください。

※本製品は全てのPCでの動作を保障するものではありません。デモ機でのご確認の上、お使いください。

※本製品のサポートは日本国内に限ります。